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半導體集成電路電壓調整器檢測

健明迪檢測提供的半導體集成電路電壓調整器檢測,檢測項目 電壓調整率SV,電流調整率SI,電源紋波抑制比Srip,耗散電流ID,檢測標準 半導體集成電路電壓調整器測試方法GB/T4377-20184.1 半導,具有CMA,CNAS認證資質。
半導體集成電路電壓調整器檢測
我們的服務 半導體集成電路電壓調整器檢測

檢測流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報價

4、雙方確定,簽訂保密協議,開始實驗。

5、結束實驗

6、郵寄檢測報告

檢測標準

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.1

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.2

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.3

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.7

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.7

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.8

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.10

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.12

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.15

半導體集成電路電壓調整器測試方法 GB/T 4377-20184.17

軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1101-1103

軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-20211101

微電子器件試驗方法和程序 GJB548C-20212015.2

微電子器件試驗方法和程序 GJB548C-20212003.2

微電子器件試驗方法和程序 GJB548C-20212011.2

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548C-20211015.1

微電子器件試驗方法和程序 GJB548C-20211005.1

微電子器件試驗方法和程序 GJB548C-20212004.3

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548C-20211010.1

檢測項目

電壓調整率SV,電流調整率SI,電源紋波抑制比Srip,耗散電流ID,耗散電流變化AID,短路電流IOS,基準電壓VREF,最小輸入輸出電,壓差VDROP,輸出電流限制llimit,輸出電壓VO,鍵合強度,剪切強度,耐溶劑性,可焊性,鍵合強度(破壞性鍵合拉力試驗),老煉試驗,穩態壽命,引線車固性,溫度循環,耐濕,密封,機械沖擊,掃頻振動,恒定加速度,鹽霧(鹽汽),靜電放電敏感度的分級,粒子碰撞噪聲檢測試驗,高溫貯存

檢測周期:7-15個工作日,試驗可加急

檢測樣品:半導體集成電路電壓調整器

試驗項目:電源紋波抑制比Srip,耗散電流ID,耗散電流變化AID,短路電流IOS,基準電壓VREF,最小輸入輸出電,壓差VDROP,輸出電流限制llimit,輸出電壓VO,鍵合強度,剪切強度,耐溶劑性,可焊性,鍵合強度(破壞性鍵合拉力試驗),老煉試驗,穩態壽命,引線車固性,溫度循環
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